Yüksek büyütme gerektiren detaylı analizler için tasarlanmış, kompakt ve dayanıklı görüntüleme sistemleri. Özellikle kalıplanmış (bakalite alınmış) numunelerin analizi için idealdir; numunenin parlatılmış düz yüzeyi doğrudan objektife baktığı için ilave düzleştirme (leveling) işlemi gerektirmez. Çoklu aydınlatma tekniklerini destekleyen yapısı, malzeme karakterizasyonunda esneklik ve çeşitlilik sağlar.
Hem yansıyan (üstten) hem de geçen (alttan) ışık aydınlatma tekniklerini destekleyen çok yönlü mikroskop sistemleri. Ters mikroskopların aksine; yüzeyi düz olmayan, kırık parçalar, kalıba alınmamış numuneler veya şeffaf malzemelerin yüksek büyütme oranlarında incelenmesi için mükemmeldir.
Geniş görüş alanı ve yüksek derinlik hissi sunan makro görüntüleme çözümleri. Kaynak dikişi kontrolleri, kırık yüzey analizleri (fraktografi) veya büyük numunelerin genel yapısının incelenmesi için idealdir. Nikon'un üstün optik kalitesi ile donatılmış bu sistemler, düşük büyütmelerde bile yüksek çözünürlük ve keskin 3D görüntüler sağlar.
